Überspannungssichere Drahtgewickelte MELF-Widerstände-X-Serie - SWMX | Überspannungsfeste MELF resistor Hersteller | FIRSTOHM

Hersteller von Drahtgewickelter SMD-Widerstand mit positivem Temperaturkoeffizienten gegen Überspannungen..Die Anti-Surge Wire Wound MELF resistor X-Serie (SWMX) verfügt über eine Leistung von 1W, mit einem Widerstandsbereich von 1 Ohm bis 150 Ohm und einer Toleranz von ±5%. Die SWMX-Serie wird in Hochspannungsanwendungen wie dem Schutz vor hohen Einschaltströmen für Leistungskondensatoren, dem Schutz beim Motorstart, Elektrofahrzeugen, erneuerbaren Energiespeichern usw. eingesetzt, um schädliche Überspannungsenergie zu absorbieren und so die Gefahr von Schäden am Stromkreis durch Überspannungsenergie zu verhindern. Aufgrund seiner SMD-fähigen Struktur im MELF-Stil ist sie besser in der Wärmeableitung als ein Chipwiderstand und verfügt über eine robustere mechanische Struktur, um Vibrationen und thermischen Schock standzuhalten.   Die Elektroden sind verbesserte Schweißpunkte, die zuverlässiger gegen Überspannungen geworden sind. Die Struktur des SWMX wurde patentrechtlich genehmigt von: Taiwan Patentnummer: I637420 Japan Patentnummer: 6836669 China Patentnummer: ZL201780088781.6 Vereinigte Staaten Patentnummer: US10170266B2 FIRSTOHM ist ein Hersteller von hochwertigen Überspannungssichere Drahtgewickelte MELF-Widerstände-X-Serie - SWMX, MELF-Widerständen, SMD-Widerständen, Metallfilm-Widerständen, Überspannungswiderständen, Drahtgewickelten Widerständen, Präzisionswiderständen, Hochspannungswiderständen, Hochleistungswiderständen, Metalloxid-Widerständen, Dünnschicht-Widerständen und Festwiderständen aus Taiwan seit 1969.FIRSTOHM ist eines der wenigen Unternehmen, das in der Lage ist, Dünnschicht-MELF-Widerstände gemäß den Anforderungen der Kunden mit hoher Qualität und Zuverlässigkeit zu entwerfen.Wir sind seit 1969 auf Dünnschichtwiderstände spezialisiert, ein nach ISO9001/14001 zertifizierter Hersteller.Über 55 Jahre Branchenerfahrung in der Entwicklung und Herstellung von Widerständen.